مجله علمی رایانش نرم و فناوری اطلاعات

مجله علمی رایانش نرم و فناوری اطلاعات

کلیدواژه‌ها = ویژگی‌های مکانی و زمانی
تعداد مقالات: 1

مدل یادگیری عمیق یکپارچه برای آشکارسازی نقص ویفر با استفاده از نمایش مشترک ویژگی‌های مکانی و زمانی

مقالات آماده انتشار، پذیرفته شده، انتشار آنلاین از 22 آذر 1404

10.22034/jscit.2025.540754.2156

علی سوری، سمیرا مودتی، محمد غلامی

مجله علمی رایانش نرم و فناوری اطلاعات

شماره‌های پیشین نشریه